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New Ultra Fast Short Circuit Detection Method Without Using the Desaturation Process of the Power Semiconductor

Titelangaben

Hain, Stefan ; Bakran, Mark-M.:
New Ultra Fast Short Circuit Detection Method Without Using the Desaturation Process of the Power Semiconductor.
2016
Veranstaltung: PCIM Europe 2016 , 10.-12. Mai 2016 , Nürnberg.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung , Vortrag )

Abstract

This paper presents an ultra fast short circuit detection method for hard switching faults and fault under load short circuit conditions without using the desaturation process of the power semiconductor. The detection method is based on monitoring the simultaneous behaviour of the di/dt and the gate voltage of the power semiconductor, which is significantly different under short circuit conditions. Furthermore, a comparison with different state-of-the-art short circuit detection methods is shown which allows a classification of the presented method in terms of detection time and detection current. Therefore, it will be presented that the new di/dt-gate short circuit detection method is able to detect a fault behaviour of the IGBT close to earliest possible point in time a short circuit failure could be detected at all.

Weitere Angaben

Publikationsform: Veranstaltungsbeitrag (Vortrag)
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran
Profilfelder > Advanced Fields > Neue Materialien
Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie
Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen > ZET - Zentrum für Energietechnik
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik
Profilfelder
Profilfelder > Advanced Fields
Profilfelder > Emerging Fields
Forschungseinrichtungen
Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 20 Mai 2016 08:32
Letzte Änderung: 20 Mai 2016 08:32
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/32404