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Far-field fluorescence microscopy beyond the diffraction limit

Titelangaben

van Oijen, Antoine M. ; Köhler, Jürgen ; Schmidt, Jan ; Müller, M. ; Brakenhoff, G. J.:
Far-field fluorescence microscopy beyond the diffraction limit.
In: Journal of the Optical Society of America A. Bd. 16 (1999) Heft 4 . - S. 909-915.
ISSN 1520-8532
DOI: https://doi.org/10.1364/JOSAA.16.000909

Abstract

A technique has been developed to obtain three-dimensional structural information on a length scale well below the Rayleigh length with conventional far-field optics. By spectrally selecting a single molecule with high-resolution laser spectroscopy and using a CCD camera to register the spatial distribution of the emitted photons in three dimensions, one can determine the position of a molecule with unprecedented accuracy. One can resolve details in the specimen with sub-diffraction-limited resolution in three dimensions by applying this procedure to as many molecules as are present in the same diffraction-limited volume and obtaining their mutual positions. The feasibility of this technique is demonstrated for the system of pentacene in p-terphenyl at cryogenic temperatures for which molecules were localized with an accuracy of better than 40 nm in the lateral and 100 nm in the axial directions.

Weitere Angaben

Publikationsform: Artikel in einer Zeitschrift
Begutachteter Beitrag: Ja
Keywords: organic compounds
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut > Lehrstuhl Experimentalphysik IX - Spektroskopie weicher Materie > Lehrstuhl Experimentalphysik IX - Spektroskopie weicher Materie - Univ.-Prof. Dr. Jürgen Köhler
Fakultäten
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Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut > Lehrstuhl Experimentalphysik IX - Spektroskopie weicher Materie
Titel an der UBT entstanden: Nein
Themengebiete aus DDC: 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Eingestellt am: 11 Apr 2018 11:30
Letzte Änderung: 16 Apr 2018 09:40
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/43415