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Messung der chemischen Zusammensetzung einer einkristallinen Nickelbasissuperlegierung mit hoher Ortsauflösung

Titelangaben

Wanderka, Nelia ; Glatzel, Uwe:
Messung der chemischen Zusammensetzung einer einkristallinen Nickelbasissuperlegierung mit hoher Ortsauflösung.
In: GIT : Labor-Fachzeitschrift. Bd. 39 (1995) Heft 11 . - S. 1059-1062.
ISSN 0016-3538

Abstract

Einkristalline Proben der rheniumhaltigen
Nickelbasissuperlegierung CMSX-4 wurden
auf ihre chemische Zusammensetzung
hin untersucht. Die Verteilung der Elemente
auf die zwei Phasen, die y Matrix und
die darin kohärent eingelagerte y' Ausscheidung,
wurde mittels AtomsondeFeldionenmikroskopie
(AP-F IM) und
Transmissionselektronenmikroskopie
(TEM) mit einem angeflanschtem energiedispersiven
Röntgendetektor (EDX) gemessen.
Durch die hohe Ortsauflösung
des AP-FIM konnte gezeigt werden, daß
die y/y' Phasengrenze atomar scharf ist.
Nur das Element Titan reichert sich an der
Phasengrenzfläche an. Cluster von wenigen
Rheniumatomen konnten in der Matrix
nachgewiesen werden.

Weitere Angaben

Publikationsform: Artikel in einer Zeitschrift
Begutachteter Beitrag: Ja
Keywords: Nickelbasissuperlegierung; Feldionenmikroskopie; Clusterbildung; Konzentrationsmessungen mit hoher Ortsauflösung;
Transmissionselektronenmikroskopie; Nickelbase superalloys;
field-ion-microscopy; cluster; concentration measurements
with high spatial resolution; Transmission electron microscope
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Titel an der UBT entstanden: Nein
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 18 Dec 2014 08:13
Letzte Änderung: 11 Sep 2015 06:08
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/5230