Projekte: Framework Programme FP7/2007-2013 under Grant Agreement No. 318804 (SNM: Single Nanometer Manufacturing for beyond CMOS devices)

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2015

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Meichner, Christoph ; Schedl, Andreas ; Neuber, Christian ; Kreger, Klaus ; Schmidt, Hans-Werner ; Kador, Lothar:
Refractive-Index Determination of Solids from First- and Second-Order Critical Diffraction Angles of Periodic Surface Patterns.
In: AIP Advances. Bd. 5 (2015) Heft 8 . - 087135.
DOI: https://doi.org/10.1063/1.4928654

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