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Transient Reflection : A Versatile Technique for Ultrafast Spectroscopy of a Single Quantum Dot in Complex Environments

Titelangaben

Wolpert, Christian ; Dicken, Christian ; Atkinson, Paola ; Wang, Lijuan ; Rastelli, Armando ; Schmidt, Oliver G. ; Giessen, Harald ; Lippitz, Markus:
Transient Reflection : A Versatile Technique for Ultrafast Spectroscopy of a Single Quantum Dot in Complex Environments.
In: Nano Letters. Bd. 12 (2012) Heft 1 . - S. 453-457.
ISSN 1530-6992
DOI: https://doi.org/10.1021/nl203804n

Abstract

Increasingly complex structures such as optical antennas or cavities are coupled to self-assembled quantum dots to harvest their quantum-optical properties. In many cases, these structures pose a problem for common methods of ultrafast spectroscopy used to write and read out the state of the quantum dot. We present a pure far-field method that only requires optical access to the quantum dot and does not impose further restrictions on sample design. We demonstrate Rabi oscillations and perturbed free induction decay of single GaAs quantum dots that have a dipole moment as small as 18 D. Our method will greatly facilitate ultrafast spectroscopy of complex quantum-optical circuits.

Weitere Angaben

Publikationsform: Artikel in einer Zeitschrift
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut > Lehrstuhl Experimentalphysik III - Nanooptik
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut > Lehrstuhl Experimentalphysik III - Nanooptik > Lehrstuhl Experimentalphysik III - Nanooptik - Univ.-Prof. Dr. Markus Lippitz
Titel an der UBT entstanden: Nein
Themengebiete aus DDC: 500 Naturwissenschaften und Mathematik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 500 Naturwissenschaften
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Eingestellt am: 17 Dec 2015 07:27
Letzte Änderung: 24 Jan 2022 14:45
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/28955