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Atomic force microscopy with nanoelectrode tips for high resolution electrochemical, nanoadhesion and nanoelectrical imaging

Titelangaben

Nellist, Michael R. ; Chen, Yikai ; Mark, Andreas ; Gödrich, Sebastian ; Stelling, Christian ; Jiang, Jingjing ; Poddar, Rakesh ; Li, Chunzeng ; Kumar, Ravi ; Papastavrou, Georg ; Retsch, Markus ; Brunschwig, Bruce S. ; Huang, Zhuangqun ; Xiang, Chengxiang ; Boettcher, Shannon W.:
Atomic force microscopy with nanoelectrode tips for high resolution electrochemical, nanoadhesion and nanoelectrical imaging.
In: Nanotechnology. Bd. 28 (2017) Heft 9 . - 095711.
ISSN 1361-6528
DOI: 10.1088/1361-6528/aa5839

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Weitere Angaben

Publikationsform: Artikel in einer Zeitschrift
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Biologie, Chemie und Geowissenschaften > Fachgruppe Chemie > Lehrstuhl Physikalische Chemie II
Fakultäten > Fakultät für Biologie, Chemie und Geowissenschaften > Fachgruppe Chemie > Lehrstuhl Physikalische Chemie/Physik der Polymere > Lehrstuhl Physikalische Chemie/Physik der Polymere - Univ.-Prof. Dr. Georg Papastavrou
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Biologie, Chemie und Geowissenschaften
Fakultäten > Fakultät für Biologie, Chemie und Geowissenschaften > Fachgruppe Chemie
Fakultäten > Fakultät für Biologie, Chemie und Geowissenschaften > Fachgruppe Chemie > Lehrstuhl Physikalische Chemie/Physik der Polymere
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
Eingestellt am: 11 Sep 2017 08:46
Letzte Änderung: 11 Sep 2017 08:46
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/39542