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Zeitschrift: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

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2021

Reuben, John ; Pechmann, Stefan:
Accelerated Addition in Resistive RAM Array Using Parallel-Friendly Majority Gates.
In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. Bd. 29 (2021) Heft 6 . - S. 1108-1121.
ISSN 1557-9999
DOI: https://doi.org/10.1109/TVLSI.2021.3068470

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