Anmelden
 

Zeitschrift: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

Eine Ebene nach oben ...
Exportieren als [RSS feed] RSS 1.0 [RSS2 feed] RSS 2.0
Gruppieren nach: Jahr | Person
Springe zu: 2021
Anzahl der Einträge: 1.

2021

Reuben, John ; Pechmann, Stefan:
Accelerated Addition in Resistive RAM Array Using Parallel-Friendly Majority Gates.
In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems. Bd. 29 (2021) Heft 6 . - S. 1108-1121.
ISSN 1557-9999
DOI: https://doi.org/10.1109/TVLSI.2021.3068470

Diese Liste wurde am Tue Apr 16 19:38:42 2024 CEST generiert.
[Zum Seitenanfang]
URL für die Einbettung dieser Seite in externe WWW-Seiten:
https://eref.uni-bayreuth.de/cgi/exportview/journal/fc36ca3db855c84b205e2030576caedd/XML/fc36ca3db855c84b205e2030576caedd.xml