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Zeitschrift: Microelectronics International

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Miś, Edward ; Dziedzic, Andrzej ; Piasecki, Tomasz ; Kita, Jaroslaw ; Moos, Ralf:
Geometrical, electrical and stability properties of thick-film and LTCC microcapacitors.
In: Microelectronics International. Bd. 25 (2008) Heft 2 . - S. 37-41.
ISSN 1356-5362
DOI: https://doi.org/10.1108/13565360810875994

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