Zeitschrift: X-Ray Spectrometry

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Kellner, Peter M. ; Dijkstra, Hans ; Glatzel, Uwe:
Quantitative analysis of Mo–Si–B alloy phases with wavelength dispersive spectroscopy (WDS–SEM).
In: X-Ray Spectrometry. Bd. 47 (2018) Heft 2 . - S. 153-158.
ISSN 1097-4539
DOI: https://doi.org/10.1002/xrs.2824

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