ERef Bayreuth
Projekte: SNM - Single Nanometer Manufacturing for beyond CMOS devices
Gruppieren nach: Jahr | Person Springe zu: 2015 Anzahl der Einträge: 1. 2015
Meichner, Christoph ; Schedl, Andreas ; Neuber, Christian ; Kreger, Klaus ; Schmidt, Hans-Werner ; Kador, Lothar:
Refractive-Index Determination of Solids from First- and Second-Order Critical Diffraction Angles of Periodic Surface Patterns. In: AIP Advances. Bd. 5 (2015) Heft 8 . - 087135. DOI: https://doi.org/10.1063/1.4928654 Zum Einbinden der Liste in das CMS beachten Sie bitte die Hinweise auf dieser Hilfeseite.
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