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Analysis of Reverse-Recovery Behaviour of SiC MOSFET Body-Diode - regarding Dead-Time

Titelangaben

Horff, Roman ; März, Andreas ; Bakran, Mark-M.:
Analysis of Reverse-Recovery Behaviour of SiC MOSFET Body-Diode - regarding Dead-Time.
In: PCIM Europe 2015. - Berlin : VDE Verlag , 2015
ISBN 978-3-8007-3924-0

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Abstract

Operating a SiC-MOSFET in an inverter phase leg will result in using it in the reverse direction. As the parasitic pn-diode shows a non-favourable characteristic, the aim of this paper is to increase the performance by minimizing the dead-time between the opposite MOSFETs, thus trying to eliminate the bipolar diode effect. The effect on the reverse recovery and the overvoltage was investigated depending on current and temperature. A dead-time providing minimum losses could be identified.

Weitere Angaben

Publikationsform: Aufsatz in einem Buch
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran
Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik
Profilfelder
Profilfelder > Emerging Fields
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 01 Jun 2015 12:00
Letzte Änderung: 09 Jan 2023 12:39
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/14553