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Long term stability of a modern powder diffractometer

Titelangaben

Wunschel, Markus ; Dinnebier, Robert E. ; van Smaalen, Sander:
Long term stability of a modern powder diffractometer.
In: Powder Diffraction. Bd. 16 (2001) Heft 3 . - S. 149-152.
ISSN 1945-7413
DOI: https://doi.org/10.1154/1.1313242

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Abstract

ABSTRACT The characteristics of the (101) peak of α-quartz and the (104) peak of the NIST SRM 1976 alumina flat plate standard have been measured in dependence of time for 60 h with Cu-Kα1 radiation in Bragg-Brentano geometry with a Philips X’Pert diffractometer equipped with a primary Ge(111) monochromator. It was found that the reproducibility of the peak position and the peak shape falls well in the ±3σ range, whereas the peak intensity strongly depends on the power history of the X-ray generator and the temperature of the diffraction system. The effects on Rietveld refinements are discussed and recommendations are given for optimized data collection.

Weitere Angaben

Publikationsform: Artikel in einer Zeitschrift
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Fachgruppe Materialwissenschaften > Lehrstuhl Kristallographie
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Fachgruppe Materialwissenschaften > Lehrstuhl Kristallographie > Lehrstuhl Kristallographie - Univ.-Prof. Dr. Sander van Smaalen
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Fachgruppe Materialwissenschaften
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Eingestellt am: 22 Mär 2016 08:00
Letzte Änderung: 22 Mär 2016 08:00
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/31963