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Short Circuit Robustness Analysis of Modern SiC Power Semiconductors and Preinvestigation of Different Short Circuit Detection Methods

Titelangaben

Griffioen, Pieter:
Short Circuit Robustness Analysis of Modern SiC Power Semiconductors and Preinvestigation of Different Short Circuit Detection Methods.
2015
( Bachelorarbeit, 2015 , Universität Bayreuth, Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Lehrstuhl für Mechatronik)

Weitere Angaben

Publikationsform: Bachelorarbeit
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 01 Aug 2017 10:40
Letzte Änderung: 01 Aug 2017 10:40
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/38997