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Microscopic Heterogeneities in the Electrical Properties of SiC as Studied with Single-Molecule Spectroscopy

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Bauer, M. ; Kador, Lothar:
Microscopic Heterogeneities in the Electrical Properties of SiC as Studied with Single-Molecule Spectroscopy.
In: The Journal of Physical Chemistry B. Bd. 107 (2003) Heft 51 . - S. 14301-14305.
ISSN 1520-5207
DOI: https://doi.org/10.1021/jp0364405

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Abstract

We report on electric-field-tuning experiments of single chromophores in a transparent matrix on top of a microcrystalline layer of silicon carbide (SiC). Upon changes of the electric field strength, most single-molecule lines show a slow creeping behavior toward a new equilibrium position. We attribute the relaxations to slow charge rearrangements in the SiC on a (sub)microscopic scale. This interpretation is supported by atomic force and scanning electron microscopy images of the SiC surface, which show mosaic structures with a typical grain size of about 300 nm.

Weitere Angaben

Publikationsform: Artikel in einer Zeitschrift
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut
Forschungseinrichtungen > Forschungszentren > Bayreuther Institut für Makromolekülforschung - BIMF
Forschungseinrichtungen
Forschungseinrichtungen > Forschungszentren
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 500 Naturwissenschaften und Mathematik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 500 Naturwissenschaften
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Eingestellt am: 30 Mär 2015 08:23
Letzte Änderung: 18 Feb 2016 08:30
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/8694