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Siegelin, Frank:
Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie.
München
:
Utz
,
2003
. - 132 p.
- (Institut für Materialforschung - Bayreuth
; 14
)
ISBN 3-8316-0192-5
(
Doctoral thesis,
2002
, Universität Bayreuth, Fakultät für Ingenieurwissenschaften)
Further data
| Item Type: | Doctoral thesis |
|---|---|
| Keywords: | Durchstrahlungselektronenmikroskopie; Elektrische Leitfähigkeit; Flüssigphasentechnik; Mikrostruktur; Siliciumcarbid; Sintern; Widerstand Elektrotechnik |
| Institutions of the University: | Faculties > Faculty of Engineering Science Faculties > Faculty of Engineering Science > Former Professors Faculties > Faculty of Engineering Science > Chair Ceramic Materials Faculties |
| Result of work at the UBT: | Yes |
| DDC Subjects: | 600 Technology, medicine, applied sciences > 620 Engineering |
| Date Deposited: | 04 Mar 2016 07:27 |
| Last Modified: | 04 Mar 2016 07:27 |
| URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/28343 |