Titelangaben
Jahn, Matthias ; Roth, Bastian ; Jablonski, Stefan:
Instance specialization : a pattern for multi-level meta modelling.
In: Atkinson, Colin ; Grossmann, Georg ; Kühne, Thomas ; de Lara, Juan
(Hrsg.):
MULTI 2014 : Multi-Level Modelling Workshop Proceedings. -
Valencia
,
2014
. - S. 23-32
Abstract
Conciseness is one major quality aspect for meta models. To keep them concise, language patterns like inheritance or powertypes can be used in an appropriated way. With instance specialization we present a further language pattern that rests on the idea of prototypal inheritance (e.g., known from Python or ECMAScript). Generally, it allows for a concept to specialize the instance facet of a particular instance and reuse its configuration. Thereby, all assignments of the latter are inherited by a specializing instance, which can be overwritten in different ways within this instance. Beyond describing the instance specialization pattern, we also introduce a semi-automatic, user-supporting mechanism for applying this pattern to existing meta models.
Weitere Angaben
Publikationsform: | Aufsatz in einem Buch |
---|---|
Begutachteter Beitrag: | Ja |
Keywords: | meta modelling; meta model evolution; instance specialization; inheritance; prototypal inheritance |
Institutionen der Universität: | Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Institut für Informatik > Lehrstuhl Angewandte Informatik IV > Lehrstuhl Angewandte Informatik IV - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Stefan Jablonski Fakultäten Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Institut für Informatik Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Institut für Informatik > Lehrstuhl Angewandte Informatik IV |
Titel an der UBT entstanden: | Ja |
Themengebiete aus DDC: | 000 Informatik,Informationswissenschaft, allgemeine Werke > 004 Informatik |
Eingestellt am: | 24 Nov 2016 12:40 |
Letzte Änderung: | 24 Nov 2016 12:40 |
URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/34110 |