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A simple technique to measure stress in ultrathin films during growth

Titelangaben

Sander, D. ; Enders, Axel ; Kirschner, J.:
A simple technique to measure stress in ultrathin films during growth.
In: Review of Scientific Instruments. Bd. 66 (1995) Heft 9 . - S. 4734-4735.
ISSN 1089-7623
DOI: https://doi.org/10.1063/1.1145316

Weitere Angaben

Publikationsform: Artikel in einer Zeitschrift
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut > Lehrstuhl Experimentalphysik XI - Funktionelle Nanostrukturen > Lehrstuhl Experimentalphysik XI - Funktionelle Nanostrukturen - Univ.-Prof. Dr. Axel Enders
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut > Lehrstuhl Experimentalphysik XI - Funktionelle Nanostrukturen
Titel an der UBT entstanden: Nein
Themengebiete aus DDC: 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 500 Naturwissenschaften
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 540 Chemie
Eingestellt am: 06 Dec 2016 08:34
Letzte Änderung: 06 Dec 2016 08:34
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/35241