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Novel electron holes of Gaussian type due to second order, non-perturbative electron trapping and the general loss of identifiability of hole structures in experiments

Titelangaben

Schamel, Hans:
Novel electron holes of Gaussian type due to second order, non-perturbative electron trapping and the general loss of identifiability of hole structures in experiments.
In: Physics Letters A. Bd. 384 (2020) Heft 28 . - No. 126752.
ISSN 0375-9601
DOI: https://doi.org/10.1016/j.physleta.2020.126752

Weitere Angaben

Publikationsform: Artikel in einer Zeitschrift
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut > Ehemalige Professoren
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik
Fakultäten > Fakultät für Mathematik, Physik und Informatik > Physikalisches Institut > Ehemalige Professoren > Professur Theoretische Physik IV - Univ.-Prof. Dr. Hans Schamel
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Eingestellt am: 23 Dec 2020 07:30
Letzte Änderung: 30 Aug 2022 12:29
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/61412