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Jiang, Xu ; Bakran, Mark-M.:
Fault Current Behavior of MMC with the First Blocking Method.
In: IEEE Transactions on Power Electronics.
Bd. 34
(2019)
Heft 12
.
- S. 11616-11628.
ISSN 1941-0107
DOI: https://doi.org/10.1109/TPEL.2019.2904549
Weitere Angaben
| Publikationsform: | Artikel in einer Zeitschrift |
|---|---|
| Begutachteter Beitrag: | Ja |
| Institutionen der Universität: | Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran Profilfelder > Advanced Fields > Neue Materialien Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen > ZET - Zentrum für Energietechnik Fakultäten Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik Profilfelder Profilfelder > Advanced Fields Profilfelder > Emerging Fields Forschungseinrichtungen Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen |
| Titel an der UBT entstanden: | Ja |
| Themengebiete aus DDC: | 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften |
| Eingestellt am: | 11 Feb 2020 07:24 |
| Letzte Änderung: | 24 Jun 2022 11:49 |
| URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/54318 |