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Heidelbach, Florian ; Riekel, C. ; Wenk, H.-R.:
Quantitative texture analysis of small domains with synchrotron radiation X-rays.
In: Journal of Applied Crystallography.
Bd. 32
(1999)
Heft 5
.
- S. 841-849.
ISSN 1600-5767
DOI: https://doi.org/10.1107/S0021889899004999
Weitere Angaben
| Publikationsform: | Artikel in einer Zeitschrift |
|---|---|
| Begutachteter Beitrag: | Ja |
| Institutionen der Universität: | Forschungseinrichtungen > Forschungszentren > Bayerisches Forschungsinstitut für Experimentelle Geochemie und Geophysik - BGI Forschungseinrichtungen Forschungseinrichtungen > Forschungszentren |
| Titel an der UBT entstanden: | Nein |
| Themengebiete aus DDC: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 550 Geowissenschaften, Geologie |
| Eingestellt am: | 04 Nov 2020 07:26 |
| Letzte Änderung: | 04 Nov 2020 07:26 |
| URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/58884 |