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Gurke, I. ; Wutz, C. ; Gieseler, D. ; Janssens, B. ; Heidelbach, Florian ; Riekel, C. ; Kricheldorf, H. R.:
Micro-focus X-ray scanning on layers of smectic superstructures.
In: Journal of Applied Crystallography.
Bd. 33
(2000)
Heft 3
.
- S. 718-722.
ISSN 1600-5767
DOI: https://doi.org/10.1107/S0021889899013230
Weitere Angaben
| Publikationsform: | Artikel in einer Zeitschrift |
|---|---|
| Begutachteter Beitrag: | Ja |
| Institutionen der Universität: | Forschungseinrichtungen > Forschungszentren > Bayerisches Forschungsinstitut für Experimentelle Geochemie und Geophysik - BGI Forschungseinrichtungen Forschungseinrichtungen > Forschungszentren |
| Titel an der UBT entstanden: | Nein |
| Themengebiete aus DDC: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 550 Geowissenschaften, Geologie |
| Eingestellt am: | 04 Nov 2020 07:31 |
| Letzte Änderung: | 04 Nov 2020 07:31 |
| URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/59111 |