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Aufbau und Inbetriebnahme eines Versuchsstandes und Charakterisierung der Gate-Lebensdauer von SiC-MOSFETs

Titelangaben

Hüttner, Hannes:
Aufbau und Inbetriebnahme eines Versuchsstandes und Charakterisierung der Gate-Lebensdauer von SiC-MOSFETs.
Bayreuth , 2026
(Masterarbeit, 2026, Universität Bayreuth, Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Lehrstuhl für Mechatronik)

Weitere Angaben

Publikationsform: Master-, Magister-, Diplom- oder Zulassungsarbeit (Masterarbeit)
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran
Profilfelder > Advanced Fields > Neue Materialien
Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie
Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen > Zentrum für Energietechnik - ZET
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 30 Jun 2026 05:52
Letzte Änderung: 30 Jun 2026 05:52
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/98916