Gruppieren nach:
Publikationsform |
JahrAnzahl der Einträge: 5.
Artikel in einer Zeitschrift
Gleißner, Michael ; Nehmer, Dominik ; Bakran, Mark-M.:
Junction Temperature Measurement Based on the Internal Gate Resistance for a Wide Range of Power Semiconductors.
In: IEEE Open Journal of Power Electronics.
Bd. 4
(2023)
.
- S. 293-305.
ISSN 2644-1314
DOI: https://doi.org/10.1109/OJPEL.2023.3265850
Veranstaltungsbeitrag
Nehmer, Dominik ; Hepp, Maximilian ; Wondrak, Wolfgang ; Bakran, Mark-M.:
The Performance of a GaN eMode HEMT in Surge Current Scenarios such as the Active Short Circuit.
2024
Veranstaltung: PCIM Europe 2024
, 11.-13.06.2024
, Nürnberg.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Nehmer, Dominik ; Hepp, Maximilian ; Wondrak, Wolfgang ; Bakran, Mark-M.:
A Comparison of GaN HEMT and SiC MOSFET Power Inverter Modules for Electric Vehicles (EV).
2023
Veranstaltung: PCIM Europe 2023
, 09.05.-11.05.2023
, Nürnberg.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Nehmer, Dominik ; Hepp, Maximilian ; Wondrak, Wolfgang ; Bakran, Mark-M.:
Switching a eMode GaN HEMT under conditions of an inverter module for electrical vehicles (EV).
2023
Veranstaltung: 25th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE 2023)
, 04.09.-08.09.2023
, Aalborg, Dänemark.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Nehmer, Dominik ; Gleißner, Michael ; Bergmann, Lukas:
Method to analyze the influence of switching behavior in hard switching half bridge topologies for traction application.
2022
Veranstaltung: EPE 2022 ECCE Europe
, 05.-09.09.2022
, Hannover.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
URL für die Einbettung dieser Seite in externe WWW-Seiten:
https://eref.uni-bayreuth.de/XML/person_gndid/1268853208.xml