Titlebar

Bibliografische Daten exportieren
Literatur vom gleichen Autor
plus auf ERef Bayreuth
plus bei Google Scholar

 

Explaining the short-circuit capability of SiC MOSFETs by using a simple thermal transmission-line model

Titelangaben

März, Andreas ; Bertelshofer, Teresa ; Horff, Roman ; Helsper, Martin ; Bakran, Mark-M.:
Explaining the short-circuit capability of SiC MOSFETs by using a simple thermal transmission-line model.
In: Institute of Electrical and Electronics Engineers (Hrsg.): Power Electronics and Applications (EPE'16 ECCE Europe), 2016 18th European Conference on. - Piscataway, New Jersey : IEEE Xplore , 2016 . - E-Book
DOI: 10.1109/EPE.2016.7695287

Volltext

Link zum Volltext (externe URL): Volltext

Abstract

In this paper the short-circuit robustness of state of the art SiC MOSFETs is analysed and their short-circuit behaviour is compared to that of a modern IGBT. A simplified thermal model of the chip itself is used to explain the difference between the behaviour of IGBT and SiC MOSFET under short-circuit conditions. Further, this model is used to derive the requirements for short-circuit detection methods for SiC MOSFETs.

Weitere Angaben

Publikationsform: Aufsatz in einem Buch
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran
Profilfelder > Advanced Fields > Neue Materialien
Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie
Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen > ZET - Zentrum für Energietechnik
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik
Profilfelder
Profilfelder > Advanced Fields
Profilfelder > Emerging Fields
Forschungseinrichtungen
Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 14 Nov 2016 08:41
Letzte Änderung: 14 Nov 2016 08:41
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/35111