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Hain, Stefan ; Bakran, Mark-M.:
New Ultra Fast Short Circuit Detection Method Without Using the Desaturation Process of the Power Semiconductor.
2016
Veranstaltung: PCIM Europe 2016
, 10.-12. Mai 2016
, Nürnberg.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Vortrag
)
Abstract
This paper presents an ultra fast short circuit detection method for hard switching faults and fault under load short circuit conditions without using the desaturation process of the power semiconductor. The detection method is based on monitoring the simultaneous behaviour of the di/dt and the gate voltage of the power semiconductor, which is significantly different under short circuit conditions. Furthermore, a comparison with different state-of-the-art short circuit detection methods is shown which allows a classification of the presented method in terms of detection time and detection current. Therefore, it will be presented that the new di/dt-gate short circuit detection method is able to detect a fault behaviour of the IGBT close to earliest possible point in time a short circuit failure could be detected at all.
Weitere Angaben
| Publikationsform: | Veranstaltungsbeitrag (Vortrag) |
|---|---|
| Begutachteter Beitrag: | Ja |
| Institutionen der Universität: | Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran Profilfelder > Advanced Fields > Neue Materialien Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen > ZET - Zentrum für Energietechnik Fakultäten Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik Profilfelder Profilfelder > Advanced Fields Profilfelder > Emerging Fields Forschungseinrichtungen Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen |
| Titel an der UBT entstanden: | Ja |
| Themengebiete aus DDC: | 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften |
| Eingestellt am: | 20 Mai 2016 08:32 |
| Letzte Änderung: | 09 Jan 2023 12:19 |
| URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/32404 |