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Wanderka, Nelia ; Glatzel, Uwe:
Messung der chemischen Zusammensetzung einer einkristallinen Nickelbasissuperlegierung mit hoher Ortsauflösung.
In: GIT : Labor-Fachzeitschrift.
Vol. 39
(1995)
Issue 11
.
- pp. 1059-1062.
ISSN 0016-3538
Abstract in another language
Einkristalline Proben der rheniumhaltigen Nickelbasissuperlegierung CMSX-4 wurden auf ihre chemische Zusammensetzung hin untersucht. Die Verteilung der Elemente auf die zwei Phasen, die y Matrix und die darin kohärent eingelagerte y' Ausscheidung, wurde mittels AtomsondeFeldionenmikroskopie (AP-F IM) und
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) mit einem angeflanschtem energiedispersiven Röntgendetektor (EDX) gemessen.
Durch die hohe Ortsauflösung des AP-FIM konnte gezeigt werden, daß die y/y' Phasengrenze atomar scharf ist. Nur das Element Titan reichert sich an der Phasengrenzfläche an. Cluster von wenigen Rheniumatomen konnten in der Matrix
nachgewiesen werden.