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Tag, Andreas ; Weigel, Robert ; Hagelauer, Amelie ; Bader, Bernhard ; Pitschi, Maximilian ; Wagner, Karl C.:
Determination of Temperature Coefficients of thin film Materials in RF BAW Components.
In:
2015 German Microwave Conference. -
Piscataway, NJ
: IEEE
,
2015
. - S. 402-405
ISBN 978-3-9812-6686-3
DOI: https://doi.org/10.1109/GEMIC.2015.7107838
Abstract
A new, accurate, and fast approach for determining the temperature coefficients of the thin film materials used in RF BAW components has been developed allowing the precise modeling of BAW components at different ambient temperatures. The presented method is based on the investigation of several resonance frequencies of the resonators with different layer-stacks. The problem of determining the temperature coefficients from broadband resonator simulations and measurements was formulated as an overdetermined linear system of equations and solved by using the weighted least square method. The presented approach has been verified by measurements.
Weitere Angaben
| Publikationsform: | Aufsatz in einem Buch |
|---|---|
| Begutachteter Beitrag: | Ja |
| Institutionen der Universität: | Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Ehemalige Professoren > Lehrstuhl Kommunikationselektronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Amélie Marietta Hagelauer Fakultäten Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Kommunikationselektronik Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Ehemalige Professoren |
| Titel an der UBT entstanden: | Nein |
| Themengebiete aus DDC: | 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften |
| Eingestellt am: | 30 Sep 2019 12:28 |
| Letzte Änderung: | 10 Aug 2022 12:54 |
| URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/52406 |