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A Quad-Core 60 GHz Push-Push 45 nm SOI CMOS VCO with -101.7 dBc/Hz Phase Noise at 1 MHz offset, 19 % Continuous FTR and -187 dBc/Hz FoMT

Titelangaben

Rimmelspacher, Johannes ; Weigel, Robert ; Hagelauer, Amelie ; Issakov, Vadim:
A Quad-Core 60 GHz Push-Push 45 nm SOI CMOS VCO with -101.7 dBc/Hz Phase Noise at 1 MHz offset, 19 % Continuous FTR and -187 dBc/Hz FoMT.
In: European Solid-State Circuits Conference : Proceedings. - Dresden, Germany , 2018 . - S. 138-141
ISBN 978-1-5386-5404-0
DOI: https://doi.org/10.1109/ESSCIRC.2018.8494241

Abstract

This paper presents a 60 GHz Quad-Core push-push VCO in 45 nm partially depleted Silicon-on-Insulator (SOI) CMOS. The measured phase noise (PN) at 60.5 GHz is −101.7 dB/Hz at 1 MHz offset from carrier. The continuous frequency-tuning range (FTR) is 19 . The Quad-Core VCO consumes only 40 mW DC power. The complete circuit including fundamental and second harmonic (H2) output buffers draws 110 mA from a single 1 V supply. The VCO cores are coupled via resonant-tank transformers. A similar transformer-coupled Dual-Core VCO is fabricated and measured to prove the relative PN improvement between Dual-Core and Quad-Core topology. The total area of the Quad-Core VCO excluding pads is 0.1 mm²

Weitere Angaben

Publikationsform: Aufsatz in einem Buch
Begutachteter Beitrag: Ja
Keywords: millimeter-wave; wideband; silicon-on-insulator; CMOS technology; System-on-Chip
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Ehemalige Professoren > Lehrstuhl Kommunikationselektronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Amélie Marietta Hagelauer
Fakultäten
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Kommunikationselektronik
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Ehemalige Professoren
Titel an der UBT entstanden: Nein
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 18 Okt 2019 07:09
Letzte Änderung: 14 Jul 2020 11:35
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/52549