Titelangaben
    
    Rimmelspacher, Johannes ; Weigel, Robert ; Hagelauer, Amelie ; Issakov, Vadim:
LC Tank Differential Inductor-Coupled Dual-Core 60 GHz Push-Push VCO in 45 nm RF-SOI CMOS Technology.
  
    
     In: 
     
     
    
     2019 IEEE 19th Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems (SiRF). -
     Piscataway, NJ
     : IEEE
    , 
     2019
    . - S. 325-327
    
    
     
   
ISBN 978-1-5386-5950-2
    
DOI: https://doi.org/10.1109/SIRF.2019.8709120
    
     
  
  
Abstract
This paper presents a 60 GHz dual-core push-push VCO in a 45 nm partially depleted (PD) RF Silicon-on-Insulator (SOI) CMOS technology. The cores are coupled inductively via differential inductors. The best measured phase noise at 1 MHz offset from a 63 GHz carrier is −94.4 dBc/Hz. The wideband continuous frequency-tuning-range (FTR) is 16 . The DC power dissipation is 76 mW including fundamental 30 GHz and second harmonic (H2) 60 GHz output buffers at 1 V power supply voltage. The measurement results of a reference single-core VCO design proves the relative phase noise improvement of the implemented core-coupling technique. The chip area excluding pads is 0.09 mm<sup>2</sup>.
Weitere Angaben
| Publikationsform: | Aufsatz in einem Buch | 
|---|---|
| Begutachteter Beitrag: | Ja | 
| Keywords: | millimeter-wave VCO; wideband; silicon-on-insulator; CMOS technology; System-on-Chip | 
| Institutionen der Universität: | Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Ehemalige Professoren > Lehrstuhl Kommunikationselektronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Amélie Marietta Hagelauer Fakultäten Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Kommunikationselektronik Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Ehemalige Professoren | 
| Titel an der UBT entstanden: | Nein | 
| Themengebiete aus DDC: | 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften | 
| Eingestellt am: | 18 Okt 2019 10:56 | 
| Letzte Änderung: | 18 Okt 2019 10:56 | 
| URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/52670 | 
 
        
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