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Parasitic Turn-On of SiC MOSFETs – Turning a Bug into a Feature

Titelangaben

Hofstetter, Patrick ; Maier, Robert ; Bakran, Mark-M.:
Parasitic Turn-On of SiC MOSFETs – Turning a Bug into a Feature.
2020
Veranstaltung: PCIM Europe 2020 , 7.-8. Juli 2020 , Online.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung , Paper )

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Abstract

This paper shows, that the usually unwanted parasitic turn-on (PTO) in SiC MOSFETs does not alwaysneed to be of a disadvantage. It is shown that a small PTO can even be used to lower the maximumovervoltage at the body diode during the diode turn-off. In applications where this is the limiting condition forthe switching speed, this means that the SiC MOSFET turn-on can be accelerated leading to significantlylower losses.

Weitere Angaben

Publikationsform: Veranstaltungsbeitrag (Paper)
Begutachteter Beitrag: Nein
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik
Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran
Profilfelder > Advanced Fields > Neue Materialien
Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie
Forschungseinrichtungen > Institute in Verbindung mit der Universität > TechnologieAllianzOberfranken (TAO)
Fakultäten
Profilfelder
Profilfelder > Advanced Fields
Profilfelder > Emerging Fields
Forschungseinrichtungen
Forschungseinrichtungen > Institute in Verbindung mit der Universität
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 03 Sep 2020 07:54
Letzte Änderung: 07 Sep 2020 09:41
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/56761