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Gleißner, Michael ; Bakran, Mark-M.:
Thermal Impedance Spectroscopy by Varying the Gate Voltage during Inverter Operation.
2025
Veranstaltung: PCIM Conference 2025
, 06.05.-08.05.2025
, Nürnberg.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
DOI: https://doi.org/10.30420/566541034
Abstract
A low-frequency sinusoidal superposition on the positive gate voltage in the on-state of power semiconductors
causes a temperature fluctuation which can be measured by the internal gate resistance based
junction temperature monitor during inverter operation. This paper describes the necessary components
of the circuit and presents measurement results. This measuring principle allows the detection of thermal
impedance changes during inverter operation without the need for special load profiles.
Weitere Angaben
| Publikationsform: | Veranstaltungsbeitrag (Paper) |
|---|---|
| Begutachteter Beitrag: | Ja |
| Institutionen der Universität: | Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran Profilfelder > Advanced Fields > Neue Materialien Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen > Zentrum für Energietechnik - ZET |
| Titel an der UBT entstanden: | Ja |
| Themengebiete aus DDC: | 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften |
| Eingestellt am: | 17 Jul 2025 06:43 |
| Letzte Änderung: | 17 Jul 2025 06:43 |
| URI: | https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/94208 |