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Reduction of thermal stress by means of a non-linear thermal capacitance close to the chip

Titelangaben

Gleißner, Michael ; Naumann, Moritz:
Reduction of thermal stress by means of a non-linear thermal capacitance close to the chip.
2025
Veranstaltung: ECCE Europe 2025 , 31.08.25-04.09.25 , Birmingham.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung , Paper )

Abstract

A simple liquid-filled container above the power semiconductor chip increases the thermal capacitance in a certain time range at higher power levels, thereby minimizing the thermal impedance by about 25%. Measurements on a hardware prototype with a periodic load profile at different time constants show that the temperature swing can be reduced, significantly improving lifetime. A simple, one-dimensional network model is presented to reproduce this non-linear, temperature-dependent behavior of the thermal impedance for simulations.
Index Terms—two-phase cooling, thermal behavior, thermal cycling, thermal model, thermal design.

Weitere Angaben

Publikationsform: Veranstaltungsbeitrag (Paper)
Begutachteter Beitrag: Ja
Institutionen der Universität: Fakultäten > Fakultät für Ingenieurwissenschaften > Lehrstuhl Mechatronik > Lehrstuhl Mechatronik - Univ.-Prof. Dr.-Ing. Mark-M. Bakran
Profilfelder > Advanced Fields > Neue Materialien
Profilfelder > Emerging Fields > Energieforschung und Energietechnologie
Forschungseinrichtungen > Forschungsstellen > Zentrum für Energietechnik - ZET
Titel an der UBT entstanden: Ja
Themengebiete aus DDC: 600 Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften > 620 Ingenieurwissenschaften
Eingestellt am: 01 Dec 2025 14:37
Letzte Änderung: 01 Dec 2025 14:37
URI: https://eref.uni-bayreuth.de/id/eprint/95359