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JahrAnzahl der Einträge: 10.
Artikel in einer Zeitschrift
Hofstetter, Patrick ; Bakran, Mark-M.:
The Two-Dimensional Short-Circuit Detection Protection For SiC MOSFETs in Urban Rail Transit Application.
In: IEEE Transactions on Power Electronics.
Bd. 35
(2020)
Heft 6
.
- S. 5692-5701.
ISSN 1941-0107
DOI: https://doi.org/10.1109/TPEL.2019.2950966
Aufsatz in einem Buch
Lurz, Fabian ; Hofstetter, Patrick ; Lindner, Stefan ; Linz, Sarah ; Michler, Fabian ; Weigel, Robert ; Koelpin, Alexander:
Low-Power Frequency Synthesizer for Multi-Tone Six-Port Radar.
In:
2018 IEEE Topical Conference on Wireless Sensors and Sensor Networks. -
Piscataway, NJ
: IEEE
,
2018
. - S. 84-87
ISBN 978-1-5386-1286-6
DOI: https://doi.org/10.1109/WISNET.2018.8311571
Veranstaltungsbeitrag
Hofstetter, Patrick ; Maier, Robert ; Bakran, Mark-M.:
Parasitic Turn-On of SiC MOSFETs – Turning a Bug into a Feature.
2020
Veranstaltung: PCIM Europe 2020
, 7.-8. Juli 2020
, Online.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Hofstetter, Patrick ; Bakran, Mark-M.:
Challenging the 2D-Short Circuit Detection Method for SiC MOSFETs.
2019
Veranstaltung: PCIM Europe 2019
, 07.05.-09.05.2019
, Nürnberg.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Hofstetter, Patrick ; Maier, Robert ; Bakran, Mark-M.:
Influence of the Threshold Voltage Hysteresis and the Drain Induced Barrier Lowering on the Dynamic Transfer Characteristic of SiC Power MOSFETs.
2019
Veranstaltung: APEC 2019
, 17.03.-21.03.2019
, Anaheim, USA.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Hofstetter, Patrick ; Bakran, Mark-M.:
Mitigating Drain Source Voltage Oscillation for SiC Power MOSFETs in order to reduce Electromagnetic Interference.
2019
Veranstaltung: 21th European Conference on Power Electronics and Applications
, 02.09.-06.09.2019
, Genua, Italien.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Hofstetter, Patrick ; Hain, Stefan ; Bakran, Mark-M.:
Applying the 2D-Short Circuit Detection Method to SiC MOSFETs including an advanced Soft Turn Off.
2018
Veranstaltung: PCIM Europe 2018
, 05.06.-07.06.2018
, Nürnberg, Deutschland.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Hofstetter, Patrick ; Bakran, Mark-M.:
Comparison of the Surge Current Ruggedness between the Body
Diode of SiC MOSFETs and Si Diodes for IGBT.
2018
Veranstaltung: CIPS 2018
, 20.03.-22.03.2018
, Stuttgart.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Hofstetter, Patrick ; Bakran, Mark-M.:
Predicting Failure of SiC MOSFETs under Short Circuit and Surge Current Conditions with a single Thermal Model.
2018
Veranstaltung: EPE 2018 : 20th European Conference on Power Electronics and Applications
, 17.09.-21.09.2018
, Riga, Lettland.
(Veranstaltungsbeitrag: Kongress/Konferenz/Symposium/Tagung
,
Paper
)
Dissertation
Hofstetter, Patrick:
Hochausnutzung von Siliziumkarbid-Feldeffekttransistoren in Traktionsumrichtern.
Bayreuth
,
2020
(
Dissertation,
2020, Universität Bayreuth, Fakultät für Ingenieurwissenschaften, Lehrstuhl Mechatronik)
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